　　10月28日至30日，“2017光学仪器与技术国际会议(OIT’2017)”在北京召开。该会由中国仪器仪表学会(CIS)和国际光学工程学会(SPIE)共同主办，李天初院士等百余位国际著名专家出席本次会议-橙电电力新闻网

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要闻 2017-11-03 08:56:04 中国仪表网

　　10月28日至30日，“2017光学仪器与技术国际会议(OIT’2017)”在北京召开。该会由中国仪器仪表学会(CIS)和国际光学工程学会(SPIE)共同主办，李天初院士等百余位国际著名专家出席本次会议

　　10月28日至30日，“2017光学仪器与技术国际会议(OIT’2017)”在北京召开。该会由中国仪器仪表学会(CIS)和国际光学工程学会(SPIE)共同主办，李天初院士等百余位国际著名专家出席本次会议。会议议题涉及光电系统与现代光电仪器、光通信与光信号处理、光电传感与应用、先进激光器及其应用、光电成像与图像处理技术、光电测量技术与系统、微纳光子学及其制备工艺、THz技术与应用等八个领域。

　　上海市计量测试技术研究院派员出席 “光电测量技术与系统”分会，并作题为“Network placement optimization for large-scale distributed system(大尺寸分布式测量系统的网络布局优化研究)”的张贴报告，展示了上海市计量测试技术研究院在大空间三维坐标溯源及多边交会测量方面的研究进展。

　　通过参加此次会议，上海市计量测试技术研究院科研骨干与同行专家就形貌测量的精度评价、全站仪的目标自动识别、激光干涉测量系统误差分析等光电测量问题进行了充分的交流，全面认识了光电测量领域的先进技术，拓宽了学术视野并激发了新的科研思路，有助于提升该院在大尺寸计量领域的能级和水平。

　　(原标题：我院参加“2017光学仪器与技术国际会议”)

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