12月14-15日，全国仪器分析测试标准化技术委员会(SAC/TC481，以下简称“标委会”)二届四次年会在北京召开。主任委员张玉奎院士，副主任委员王海舟院士、柴之芳院士，副主任委员、中国分析测试协会秘书长张渝英，副主任委员、中国计量院副院长房庆，中国分析测试协会副理事长吴波尔，科技部资源配置与管理司相关领导和委员等共50余人出席了此次会议

要闻     2017-12-26 08:57:19         中国仪表网