要闻 2018-02-10 08:28:04 中国仪表网
2018年1月22日~24日,IEC/TC65/ AHG3 “智能制造框架和系统架构” 工作组会议在日本东京召开,来自德国、美国、法国、中国、日本、韩国等国的21名专家出席了此次会议。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所(简称仪综所)副总工王春喜博士、标准与检测中心副主任丁露博士作为中国专家参会
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